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2026년 06월 15일 10:45 대전=허재구 기자

"제21차 한·일 상표전문가회의" 15~16일 서울서 개최

한·일 양국 상표 실무자들이 모여 상표법·제도, 심사기준, 품질관리, 상품분류 등 상표심사정책 전반에 관한 현안을 논의하고 경험을 공유하는 회의가 서울에서 열린다.

지식재산처는 오는 16일까지 이틀간 한국지식재산센터(서울 강남구)에서 일본 특허청(JPO) 상표 전문가들과 '제21차 한·일 상표전문가회의'를 개최한다고 15일 밝혔다. 올해로 21회째를 맞는다.

양국은 의제별로 사전에 질의서를 교환하고 그 내용을 상호 발표하는 방식으로 회의를 진행한다.

15일에는 상표권 공존동의·지역단체상표·식별력 판단 등 상표법·심사기준 관련 이슈, 상품분류 현안, 세계 5대 상표 기관(TM5)에서의 협력방안 등을 논의한다.

16일에는 상표심사에서의 인공지능(AI) 활용에 대해 논의한다. 양국은 도형(이미지)·상표명(문자) 검색 등에 AI를 활용하고 있다. 이번 회의에서는 AI를 실제 상표심사에 적용하기 위한 AI 모델 선정, 데이터 투입 등 학습, 활용 결과의 환류 등 현황 및 향후 계획을 서로 논의한다.

남영택 지시재산처 상표디자인심사국장은 "이번 회의를 통해 한·일 간 상표정책 및 제도 운영과 관련한 협력이 한층 강화되기를 기대한다"고 말했다.

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